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○広範に適用可能な試料反応状態分析方法

整理番号 1340 特許状況 特許公開
概要 分子間で生じる化学反応の過程を広範に解析可能な反応状態分析方法及び装置を提供します。分子間で生じる化学反応は、反応前後の成分についてはその測定が可能であるものの、反応途中の中間体や生成物を、その発生直後に観測することは困難で、また、反応時の温度やガス雰囲気を瞬時に変化させることも困難です。
本技術は、これらの課題に鑑み、レーザーイオン化質量分析法を用い、反応条件を簡単且つ短時間で変更でき、反応開始から終了までの反応中間体や生成物、過渡的な化学反応状態をその発生直後リアルに観測することを実現しました。
金属や半導体等の表面分析、DNAやタンパク等の高分子の分析等の広い範囲に適用可能です。更に、反応物が検出できない成分であっても、生成物が検出できる場合には反応物を推測することが可能であるため、環境分析等の現場における新たな分析手法として利用できます。
キーワード:化学反応、反応状態分析方法、レーザーイオン化質量分析法、中間体、生成物
目的 共同研究、ライセンス契約を希望します。
分野 センサ・計測・検査





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